掌握合金分析光譜儀正確的使用方法是關(guān)鍵
2025-06-23
在現(xiàn)代工業(yè)中，確保金屬材料及其合金成分的準(zhǔn)確性對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量和安全性至關(guān)重要。合金分析光譜儀作為一種高效的檢測(cè)工具，能夠快速準(zhǔn)確地識(shí)別材料中的元素組成及含量。為了充分利用該儀器，掌握正確的使用方法是關(guān)鍵。以下將詳細(xì)介紹如何正確操作合金分析光譜儀，以實(shí)現(xiàn)良好檢測(cè)效果。一、準(zhǔn)備工作在開(kāi)...
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?真空型X射線熒光合金分析儀--XRF分析銅合金主量和微量元素?
?EDX-9000A真空型X射線熒光合金分析儀--XRF分析銅合金主量和微量元素?EDX9000A真空型合金分析儀XRF檢測(cè)速度更快，精確度更高。經(jīng)驗(yàn)系數(shù)分析方法提供EDX9000A合金分析儀優(yōu)秀的檢測(cè)速度和準(zhǔn)確性，確保了高效可靠的實(shí)時(shí)檢測(cè)結(jié)果。PMI檢測(cè)行業(yè)和廢金屬回收行業(yè)終于擁有了他們一直期待的堅(jiān)固的臺(tái)式真空型XRF輕元素測(cè)試工具。EDX9000A銅合金分析儀元素檢測(cè)下限實(shí)現(xiàn)10秒內(nèi)完成ppm級(jí)分析。其優(yōu)異的性能大大提高了分析效率，并實(shí)現(xiàn)了XRF光譜分析的新應(yīng)用。合金分析...
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X射線熒光光譜儀分析測(cè)定碳酸鹽巖石中主次痕量元素
X射線熒光光譜儀EDX9000B分析測(cè)定碳酸鹽巖石中主次痕量元素采用粉末樣品壓片制樣,碳酸鹽巖石標(biāo)樣及人工合成標(biāo)樣為標(biāo)準(zhǔn),使用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法及散射線內(nèi)標(biāo)法校正元素的吸收增強(qiáng)效應(yīng),用X射線光譜儀EDX9000B對(duì)碳酸鹽巖石試樣中的Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Ba,Pb,La,Ce和Th等30種主次痕量元素進(jìn)行測(cè)定,其分析結(jié)果與標(biāo)樣標(biāo)準(zhǔn)值(或化學(xué)法值)符合較好,方法的精密度...
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XRF熒光光譜儀玻璃融片法測(cè)定鐵精粉中主次量元素
XRF熒光光譜儀EDX9000B玻璃融片法測(cè)定鐵精粉中主次量元素試驗(yàn)TXRF玻璃融片法測(cè)定鐵礦石中主次量元素.試樣以Li2B4O7為熔劑,以NaNO3為氧化劑,經(jīng)過(guò)高溫熔融制成玻璃融片,用XRF法進(jìn)行定量分析.經(jīng)高溫熔融后,試樣中的金屬元素以四硼酸鹽,非金屬元素以高價(jià)含氧酸鹽的形式進(jìn)入玻璃融片中,粒度效應(yīng)的影響基本消除,礦物效應(yīng),基體效應(yīng)的影響也大大降低.工作曲線的繪制采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法.大量試驗(yàn)結(jié)果表明,該方法分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠.樣品制備鐵礦石研磨粉碎：首先，把塊狀或顆粒狀地耐火...
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XRF能量色散熒光光譜儀在巖心樣品快速分析中的應(yīng)用
XRF能量色散熒光光譜儀Compass300在巖心樣品快速分析中的應(yīng)用XRF技術(shù)作為一種新興的分析檢測(cè)技術(shù),經(jīng)過(guò)科學(xué)工作者一百多年的探索研究,現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展成熟,廣泛應(yīng)用于冶金,地質(zhì),有色,建材,商檢,環(huán)保,衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域.通過(guò)使用便攜式Compass300能量色散熒光光譜儀在野外現(xiàn)場(chǎng)作業(yè)中的應(yīng)用,制定了實(shí)驗(yàn)方案對(duì)巖心樣品進(jìn)行快速分析.考慮到野外現(xiàn)場(chǎng)巖心測(cè)量的復(fù)雜性以及能量色散X熒光分析儀在野外現(xiàn)場(chǎng)使用的特點(diǎn),故本次野外應(yīng)用選取的是便攜式能量色散X熒光分析儀Compass300...
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真空臺(tái)式EDX9000Bplus礦產(chǎn)分析儀測(cè)定工業(yè)硅中鐵鋁鈣
硅產(chǎn)業(yè)是我國(guó)有色金屬行業(yè)的重要組成部分，近年來(lái)一直受到國(guó)內(nèi)外廣泛關(guān)注。工業(yè)硅作為硅鋁及硅基合金、有機(jī)硅、多晶硅的基礎(chǔ)原材料，其下游應(yīng)用已經(jīng)滲透到信息產(chǎn)業(yè)、新能源等相關(guān)行業(yè)中，在我國(guó)經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展中具有特殊的地位，是新能源、新材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展*的重要材料，展現(xiàn)了廣闊的應(yīng)用前景。工業(yè)硅的細(xì)分產(chǎn)品主要分為多晶硅、有機(jī)硅和合金硅；其中，多晶硅又可以進(jìn)一步冶煉成單晶硅。工業(yè)硅行業(yè)的上游為化工原料制造業(yè)，主要包括硅塊、熱電、還原劑、石油焦等，行業(yè)下游主要為電子器件、日化產(chǎn)品、光伏、半導(dǎo)體、汽車(chē)...
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長(zhǎng)知識(shí)了!能量色散型 X 熒光光譜儀分析問(wèn)答答疑解惑
能量色散型X熒光光譜儀分析問(wèn)答答疑解惑1.什么是X射線熒光分析？答：(1)X射線是一種電磁波，波長(zhǎng)比紫外線還要短，為0.001‐10nm左右。X射線照射到物質(zhì)上面以后，從物質(zhì)上主要可以觀測(cè)到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過(guò)X射線，ESI英飛思NT產(chǎn)品使用的是通過(guò)對(duì)第一種熒光X射線的測(cè)定，從物質(zhì)中獲取元素信息（成分和膜厚）的熒光X射線法原理。物質(zhì)受到X射線的照射時(shí)，發(fā)生元素所固有的X射線（固有X射線或者特征X射線）。熒光X射線裝置就是通過(guò)對(duì)該X射線的檢測(cè)而獲取元素信...
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XRF鍍層測(cè)厚儀用于涂層測(cè)厚元素分析
XRF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本?？蛻?hù)還通過(guò)確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來(lái)測(cè)量涂層，以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無(wú)損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果，并且可以通過(guò)單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來(lái)完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...
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